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Dual Wavelength Raman Monitoring Systems (RAMS)
우리의 이중 파장 라만 모니터링 시스템(RAMS)은 다중 프로브 입력 라만 측정기로, 532 nm 및 785 nm 광섬유 프로브를 실시간으로 동시에 측정할 수 있습니다.
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우리의 이중 파장 라만 모니터링 시스템(RAMS)은 532 nm 및 785 nm 광섬유 프로브의 실시간 동시 측정이 가능한 다중 프로브 입력 라만 측정 장치입니다.
• 2차원 TE 냉각 CCD 검출기를 갖춘 고처리량 볼륨 위상 홀로그래픽 격자 분광계가 검출에 사용됩니다.
• 슬릿 방향과 평행하게 장착된 선형 광섬유 배열 번들이 분광계 입구 개구부에 결합되어 다중 프로브 결합을 가능하게 합니다.
• 2차원 CCD 칩은 이미징된 선형 광섬유 배열 내 개별 광섬유의 위치에 대응하도록 이중 트랙이 설정됩니다.
• 이중 트랙은 이중 프로브 동시 측정을 구현할 수 있도록 합니다.
• 각 채널에는 라만 자극용 전용 레이저가 장착되어 있습니다. -
Specifications
Excitation Wavelength
532 nm and 785 nm.
Raman Shift Range
532 nm: 150-4100 cm-1; 785 nm: 150-3000 cm-1
Laser Power
200 Mw for 532 nm, 490 mW for 785 nm
Fiber Input
100 μm with FC connector standard for laser, 200 μm with FC connector for collection
Spectrograph
High throughput VPH grating with F2 optics
Detector
Andor IVAC CCD, 1650 x 200 active pixels (16 x 16 μm pixel size)
CCD TE Cooling
-60 °C at ambient (25 °C)
Power Input
90-264 VAC
Communication
USB
Software
SpectraSoft data acquisition software included, SpectraChem plug in software for process applications also available
Computer and Operating Software Requirements
Windows 7 64-bit or later, Intel Core i3 or comparable processor, 4GB of memory & 100MB of free hard drive space
Instrument Housing
19” Rackmount housing
Coupling System
FC Connector
Dimensions & Weight
6.97″x19.00″x10.43″, 21 lbs
Part Number
RAMS-532/785
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