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SID4 UHR

SID4 UHR 초고해상도 웨이브프론트 센서는 광학에 맞게 조정되었습니다. 계측 요구. SID4의 구현 용이성과 높은 샘플링 및 분해능을 결합합니다. 조리개가 커서 테스트 중인 전체 샘플에 대해 실시간 파면 측정이 가능합니다. SID4 UHR은 표면 검사(거칠기, 높음)에 최적화되어 있습니다. 주파수 결함 검출...) 광학 부품 특성화(렌즈, 대물렌즈, 비구면 및 자유형 광학...). 고성능 카메라로 제작된 이 제품은 레이저 특성 분석을 위한 놀라운 정밀도를 제공합니다. SID4 UHR은 512 x 512 위상 맵 샘플링을 통해 연구 및 산업 분야의 광학 및 레이저 계측을 위한 고유한 도구입니다.

제품문의
  • Features
    • Very high resolution 
    • Large analysis pupil: 15.16 x 15.16 mm²
    • Achromaticity
  • Specifications
    Wavelenght range400 - 1100 nm
    Aperture dimension15.16 x 15.16 mm²
    Spatial resolution29.6 µm
    Phase and Intensity sampling512 x 512
    Resolution (Phase)<2 nm RMS
    Acquisition rate8 fps
    Real-time processing frequency*1 fps (full resolution)
    InterfaceGiga Ethernet
    Dimensions (WxHxL)60 x 60 x 70 mm³
    Weight~450 g


    *with SID4 Software
  • Options / Accessories


  • Applications
    • Laser testing, adaptive optics, and plasma diagnostics 
    • Optics metrology and optical system alignment 
    • Material inspection
  • Product Literature
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