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PHASICS

SID4 sC8

생명 과학 및 재료 검사 정량 위상 이미징 응용 분야를 위해 설계된 SID4 sC8은 컴팩트한 플러그 앤 플레이 솔루션에서 빠르고 정확하며 진정한 정량 위상 측정을 제공합니다. 생물학자는 무표지 세포 이미징, 고감도 및 자동 분할의 이점을 누릴 수 있으며, 재료 과학자는 정확한 굴절률 측정, 레이저 손상 분석 및 표면 특성화에 액세스할 수 있습니다.

제품문의
  • Features
    • Sub-nanometric OPD sensitivity
    • Single-shot phase and intensity measurement
    • Compatible with acquisition software: Metamorph, Micromanager, NIS-Elements...
  • Specifications
    Sensor technologysCMOS
    Wavelength range400 - 1050 nm
    Aperture dimension16.64 x 14.04 mm²
    Spatial resolution19.5 µm
    Phase and Intensity sampling852 x 720
    Resolution (Phase)< 2 nm RMS
    Acquisition rate40 fps
    Real-time processing frequencyUp to 10 Hz (full resolution)*
    Microscope interfaceC-mount
    Computer interfaceUSB 3.0
    Dimensions (WxHxL)82 x 89 x 145 mm³
    Weight~ 1100 g


    *with PHAST Software
  • Options / Accessories


  • Applications
    • Material inspection 
    • Quantitative Phase Imaging
  • Product Literature
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