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SID4 SWIR HR

SID4 SWIR HR 파면 센서는 Phasics의 특허 기술을 InGaAs 검출기와 통합합니다. 초고 공간 분해능(160 x 128 위상 픽셀)과 고감도 덕분에 900nm에서 1.7μm까지 정확한 파면 측정을 제공합니다. SID4 SWIR HR은 군사 및 감시 장치의 광통신, 검사 기기 또는 야간 투시경에 사용되는 SWIR 광학 시스템을 테스트하기 위한 혁신적인 솔루션입니다.

제품문의
  • Features
    • Extended spectral range from 0.9 to 1.7 µm 
    • Very high resolution – 160 x 128 phase pixels
    • High sensitivity – compatible with low energy IR sources
  • Specifications
    Wavelength range0.9 -1.7 µm
    Aperture dimension9.60 x 7.68 mm²
    Spatial resolution60 µm
    Phase and Intensity sampling160 x 128
    Resolution (Phase)< 2 nm RMS
    Accuracy (Absolute)15 nm RMS
    Acquisition rate30 fps
    Real-time processing frequency*> 7 fps (full resolution)*
    InterfaceGiga Ethernet
    Dimensions (WxHxL)100 x 55 x 63 mm³
    Weight~500 g


    * with SID4 Software
  • Options / Accessories


  • Applications
    • Laser testing, adaptive optics, and plasma diagnostics 
    • Optics metrology and optical system alignment
  • Product Literature
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